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液状樹脂の狭隘部への含浸挙動について |
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電気製品などでは絶縁という観点から 電圧がかかる部位全体を液状の絶縁樹脂を含浸注入 |
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して硬化させて成型する。 |
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特に絶縁体を積層した内部の空隙ボイドをいかに皆無とするかが絶縁性能の確保に大切である。 |
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この為には、液状樹脂の含浸に関しての要因が何であるかを知って、樹脂の挙動を把握 |
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しておくことが必要である。 |
この例を以下に示しましょう。 |
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| 1.含浸モデル |
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図1.のように簡略モデルとして考える。 |
半径R1と 半径R2の隙間に |
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樹脂を加圧注入含浸させる。 |
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Y |
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A |
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拡大 |
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X |
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樹脂の含浸速度分布 |
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実際の樹脂の含浸状況は絶縁積層に対して沿層方向(x方向)だけでなく、貫層方向(r方向) |
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からもあるが、絶縁層内はポーラスで右上図のように沿層定常層流とした。含浸時間等 |
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との関係は実測値を把握して係数換算するなどの工夫をすればよい。 |
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| 2.含浸要因解析 |
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上記をモデルとして樹脂の含浸状況は圧力差(沿層方向の両端の)と樹脂の粘性力と |
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吊り合う。 |
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a/2≧y≧0において |
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△P・dy=−dF=−d [η・x・(dv/dy)] |
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圧力差 粘性力 |
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従って、△P・y=−η・x・(dv/dy) +C1 ・・・・・・・・ @ |
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△P:圧力差 |
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x:沿層方向距離 |
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y :絶縁厚さ方向厚さ |
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v:樹脂の流速 |
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η:樹脂の粘性率 |
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@において y=0で dv/dy=0 よって C1=0となるので |
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@式は △P・y・dy=−η・x・dvとなる。これを解くと |
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△P・y2/2=−η・x・v+C2 |
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ここで y=a/2で v=0 よって C2=△P・a2/8 となるので |
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△P・y2/2=−η・x・v+△Pa2/8 |
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ここで v=dx/dt を代入して |
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(△P/2)
(y2−a2/4) =−η・x・dx/dt これを解いて |
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(△P/2)
(y2−a2/4) t=−η・x2/2+C3 |
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ここで t=0でx=0より C3=0 よって |
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t=
【−η・x2】/【△P (y2−a2/4)】・・・・・・・・ A |
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Aにおいてy=0でxは最大となる。この時が含浸最短到達時間 (t0)で |
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t0=
(4η・x2max)/(△P・a2) ・・・・・・・・ B |
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この式が樹脂含浸最短到達時間の一般式である。 |
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又、 y=a/4において 平均的樹脂含浸到達時間 (tav)と定義すると |
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tav=(5.3η・x2)/(△P・a2) |
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上式は簡易法なので実際に絶縁層全体が樹脂含浸される時間はこれよりも大きい。 |
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以上から次のことがわかる。 |
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電機機器の積層絶縁層は有機フィルム,ガラス等の薄層積層である事が多い事などから |
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樹脂含浸必要時間はコイル長の2乗と樹脂粘度に比例し、絶縁厚さの2乗と |
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圧力差に反比例する。従って、樹脂含浸必要時間の短縮化には例えば |
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1)絶縁層内部をフィルムなどの分割層流化する。(見かけ上aを小さくすること)絶縁は |
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極力避けて樹脂含浸しやすいガラステープ等を絶縁中間層に設けて貫層含浸性を増大 |
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させること。(見かけ上、aを大きくすること) |
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2)加温含浸でかつ、加圧力を上げる設備構造とすることである。 |
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実際の生産設計上、樹脂粘度η、コイル長xは大きく改善出来ないので含浸圧力△P、 |
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絶縁厚さaを工夫する。 |
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こうして物理現象をまず理論的に解明してその主要因を把握して絶縁設計、設備、 |
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生産設計に反映することが大切である。 |
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以下 適用具体例を示す。 |
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(凡例1) |
絶縁積層厚さ フィルム 0.13*半掛け5回*2=1.3mm=0.13cm |
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電機絶縁機器長さ
L=x(max)=200cm |
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樹脂粘度 η=5poise=5*10-3kg/cm・s |
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加圧圧力 △P=5kg/cm2
とすると |
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樹脂含浸最短到達時間 t0=4*5*10-3*2002/5*(0.13)2 |
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=9467sec=2.6h |
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(凡例2) |
絶縁積層厚さ フィルム 0.13*半掛け4回*2=0.13*4*2=1.04mm=0.104cm |
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と絶縁厚さを半掛け1回分だけ(厚さを1/5=20%)小さくして、他の条件は |
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(凡例1)と同じとすると |
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樹脂含浸最短到達時間はt0=4.1hと(凡例1)より1.6倍も長くなる。 |
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之は一見するとイメージが異なる?。絶縁層を薄くすると含浸時間がより長く必要。 |
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このようなときには一層 Y方向(貫層方向)に含浸しやすい絶縁構造処置が |
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含浸時間縮小に有効である。 |
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ただし、上記は絶縁厚さがある程度までで、絶縁厚さが大きくなると貫層方向からの |
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含浸も大きく影響するので含浸長さ方向の中位部かつ絶縁厚さの中間部で閉止ボイドが |
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残留して未含浸部が発生することがあるので実機機器での検証確認の注意が必要である。 |
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| 3.樹脂含浸度確認 |
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樹脂含浸度は、絶縁層中の空気が樹脂に置換えること、即ち、静電容量(誘電率) |
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の変化で捕らえればよい。 |
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樹脂含浸前の絶縁層の静電容量は C0=Kε0S/d |
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樹脂含浸後の絶縁層の静電容量は C=KεS/d で示される。 |
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C0,C:樹脂含浸前後の絶縁層の静電容量 |
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K :係数 |
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ε0 :空気の比誘電率 (1.0) |
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ε :樹脂の比誘電率
(3.0〜) |
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d :含浸絶縁厚さ(積層厚さ) |
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従って、理論的には C/Co=ε/ε0≒3.0を確認して含浸完了することが必要である。 |
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以上より |
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樹脂含浸度は樹脂含浸前後の絶縁層の静電容量を傾向比較してその比(C/C0)が |
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3以上あれば(樹脂含浸前の絶縁層の静電容量基準)良好といえる。実際にはこれは |
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目安であり、この値が飽和に至ること、その絶対値が異常でないことの確認が必要 |
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である。 |
絶縁層中の空隙を概ね空隙率などで確認する方法で検証するのが適切であろう。 |
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この方法には 空隙自体を直接調べる X線透過解析、空隙存在を拡大して相対評価する |
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方法として 電圧印加によるボイド放電検出法などがある。 |
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